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电学探针台 Probe Station
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半导体参数分析仪 Semiconductor Parameter Analyzer
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工业显微镜 Industrial Microscope
工业显微镜Industrial Microscope 型号：日本尼康LV100ND技术参数：﹡观察方式：透射/反射/明场/暗场﹡相机：1600万像素高清彩色相机 Model: Ni
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四探针电阻仪 ResMap Four Point Probe
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接触角测量仪 Optical Temsiometer
接触角测量仪Optical Temsiometer型号：瑞典Biolin THETA功能：测量接触角、表界面张力和表面自由能。技术参数：﹡接触角测量范围：0-180°﹡控制：自动滴样单元，高速图像观测
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激光粒度分析仪 Particle Size Analyzer
激光粒度分析仪Particle Size Analyzer 型号：美国Microtrac BLUEWAVE S3500技术参数：﹡测量范围：0.01-2000μm﹡测量时间：10-30秒﹡兼
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DSC-TGA同步热分析仪 Simultaneous Thermal Analysis
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紫外可见近红外分光光度计 UV-VIS-NIR Spetrometer
紫外可见近红外分光光度计UV-VIS-NIR Spetrometer 型号：美国Perkin Elmer Lambda 950功能：具有超高紫外/可见/近红外性能，精度高，适合诸如高反和低反
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傅立叶变换红外光谱仪 Fourier-Transform Infrared Spectrometer
傅立叶变换红外光谱仪Fourier-Transform Infrared Spectrometer型号：日本岛津IRTracer-100技术参数：﹡光谱范围：7800~350cm-1﹡高灵敏度：S/N
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